Einnosys menawarkan pelbagai penyelesaian untuk Peningkatan Hasil, mulai dari pengimbasan kod bar yang mudah untuk kotak lot hingga analisis yang sangat kompleks mengenai isu-isu yang berkaitan dengan hasil dengan menghubungkan data wafer ujung ke ujung. Anggota pasukan kami mempunyai pengalaman selama puluhan tahun dalam meningkatkan hasil di semua bidang Perhimpunan, Ujian, kilang Pembungkusan, dan FAB.
Sebagai tambahan untuk melaksanakan projek peningkatan hasil yang kompleks, staf kami telah menerbitkan makalah teknikal tentang bagaimana menggunakan automasi inovatif dan tidak inovatif untuk meningkatkan hasil di kilang.
Penyelesaian Pengurusan Hasil
- Host aplikasi atau pengendali stesen yang memuat turun dan / atau memilih resipi semasa kod bar atau RFID mengimbas kotak banyak dan memulakan proses dari jauh
- Pengumpulan dan analisis penggera, peristiwa dan parameter proses kritikal lain dari peralatan melalui SECS / GEM atau cara lain dan berkorelasi dengan data lain seperti dari MES atau dari peralatan lain
- Untuk Wafer FAB, menghubungkan data wafer hujung ke hujung: Dari epitaxial -> proses sebaris <-> metrologi sebaris <-> ujian elektrik <-> Ujian Akhir
- Gunakan pendekatan maklum balas dan maklum balas untuk memberi makan data metrologi untuk memproses peralatan untuk meningkatkan hasil
Kajian kes
- Pada satu wafer fab, penyelesaian Pengurusan Hasil kami menghasilkan peningkatan hasil sebanyak 0.8%
- Pada fab wafer lain, sistem Pengurusan Hasil kami menghasilkan peningkatan hasil sebanyak 0.6%